OSSERVAZIONE SEM
Campione B trattato con la semplice sabbiatura
Le rugosità e le nicchie superficiali sono profonde con architettura disordinata. In b è visibile un difetto di lavorazione del manufatto.
La superficie appare più uniforme in quanto ricoperta da uno strato compatto di ossido di Titani
L’analisi EDS tra i due campioni evidenzia la diversa presenza quantitativa dell’ ossido di Titanio a favore del campione ipersossidato.
La presenza dei picchi ascrivibili al Si e Al sono dovuti a residui del processo di sabbiatura.
ANALISI FTIR
Le analisi FTIR (figura 12) evidenziano una significativa presenza di gruppi ossidrili sui campioni iperossidati (ampia banda tra 300 e 3600 cm-1).
La presenza di questa gruppi è tipica a seguito di alcuni trattamenti di ossidazione del titanio.
Lo spettro relativo alla vite di tipo A (curva blu in figura 12) presenta inoltre dei segnali a circa
1083, 1418 e 1639 cm-1. L’ultimo di questi segnali rientra nella zona tipica dei doppi legami del carbonio e potrebbe essere ascrivibile a gruppi C=C o C=O.
I segnali a più bassa lunghezza d’onda possono, invece, rientrare nella zona dei legami singoli del carbonio e potrebbero essere ricondotti a gruppi carbonato, CH2 o CH3.
Infine il segnale intorno a 1000 cm-1 potrebbe anche essere ascrivibile alla silice.
Analisi riassuntiva delle micrografie SEM
Per tutti i campioni analizzati sottoposti a trattamento con modalità temporali diverse, si osserva la presenza di uno strato superficiale modificato, rispetto alla superficie comunemente riscontrabile su viti per implantologia
Il tipo di contrasto, osservabile al microscopio, indica un fenomeno di ossidazione della superficie, che la rende poco conduttiva elettricamente.
L’analisi chimica evidenzia la presenza di Ti e Al. La presenza di alluminio potrebbe derivare sia dalla composizione del substrato metallico (lega Ti-Al-V) sia dalla presenza di particelle di allumina, utilizzate per la sabbiatura. Dato l’elevato tenore di Al registrato sulla superficie e l’utilizzo piuttosto raro di leghe di titanio in ambito odontoiatrico, si propende per questa seconda ipotesi.
Si sottolinea che la presenza di V è difficilmente rilevabile mediante tecnica EDS, in quanto il segnale è mascherato da quello del Ti, quindi non la si esclude.
Si rileva inoltre un significativo arricchimento in ossigeno e la presenza di silicio su tutte le superfici analizzate.
Tracce di Na sono spesso riscontrabili
Su tutti i campioni viene rilevata la presenza di carbonio, ma vista la grande affinità delle superfici di titanio verso questo elemento, non è possibile quantificarne il tenore.
La struttura dello strato modificato appare compatta e priva di porosità sia micro- che nano- metriche. Sono State analizzate anche le zone che evidenziano difetti produttivi che influenzano la formazione dello strato compatto.